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发表时间:2019-11-06 09:21:10   浏览:

  近日,2019年国际图形计量大会在上海召开。本次会议由上海理工大学主办,由中国工程院信息与电子工程系、中国计量学研究院、中国航空工业集团北京长城计量测试技术研究所、中国测试技术研究所和苏州汇利仪器有限公司共同赞助。会议由中国工程院李通宝院士主持,江苏省计量研究院平面度项目主任杨惠民出席。分子蒸馏设备品牌

  中国科学院院士庄松林院士、李同宝院士、中国工程院院士顾民等5名院士共同担任会议主席。庄松林致开幕词长春光机研究所副所长张学军,中国测试技术研究所副所长冉青,上海理工大学博士王浩宇、万新军,德国联邦物理技术研究所所长格尔德·埃赫雷特,南安普敦大学教授约翰·麦克布莱德英国斯图加特大学(stutgart University)校长佩德里尼(Pedrini g)和德国扁平化专家安卡洛(iancarlo)在研讨会上作了专题报告。上海分子蒸馏厂家

  本发明涉及一种超高精度平板型波前干涉检测技术、用于大口径液晶绝对检测的方法、干涉仪在半导体单晶硅片检测中的应用、光学和光波表面平坦度测量,通过诸如相移平面的厚干涉仪测量不确定度分析。在会上,德国PTB平面度实验室还公开了2018平整度参数国际比例的数据和结果。

  本次国际研讨会起点高,专业性强。重点介绍了板形专业测量技术领域的最新发展、热点问题、关键挑战等问题。论述了平面度测量和高精度平面制造加工的难点和发展方向,有效促进了测量检测技术的发展,促进了行业技术交流与合作并为江苏省计量学院板形工程提供了施工工具,具有指导意义和针对性。


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